lcr测试仪im3536-龙8国际app

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lcr测试仪im3536
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产品简介:





dc,4hz~8mhz测量频率,今后的标杆产品

● 测量频率dc,4hz~8mhz
● 测量时间:最快1ms
● 基本精度:±0.05% rdg
● 1mω以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量
● 可内部发生dc偏压测量
● 从研发到生产线活跃在各种领域中

主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。

基本参数

测量模式lcr(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)

测量参数

z, y, θ, x, g, b, q, rdc(直流电阻),rs (esr), rp, ls, lp, cs, cp, d (tanδ), σ, ε
测量量程100 mω~100 mω, 10档量程(所有参数由z规定)
显示范围z: 0.00 m~9.99999 gω, y: 0.000 n~9.99999 gs, θ: ± (0.000°~999.999°), q: ± (0.00~9999.99), rdc: ± (0.00 m~9.99999 gω), d: ± (0.00000~9.99999), δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mω~200mω)
测量频率4 hz~8 mhz (10 mhz~100 hz步进)
测量信号电平[v模式, cv模式]的[通常模式]
4 hz~1.0000 mhz: 10 mv~5 v (最大50 ma)
1.0001 mhz~8 mhz: 10 mv~1 v (最大10 ma)
[v模式, cv模式]的[低z高精度模式]
4 hz~1.0000 mhz: 10 mv~1 v (最大100 ma)
[cc模式]的[通常模式]
4 hz~1.0000 mhz: 10 μa~50 ma (最大5 v)
1.0001 mhz~8 mhz: 10 μa~10 ma (最大1 v)
[cc模式]的[低z高精度模式]
4 hz~1.0000 mhz: 10 μa~100 ma (最大1 v)
[直流电阻测量]: 1 v固定
dc偏压发生范围:dc电压0~2.50 v (低z高精度模式时0 ~1 v)
输出阻抗通常模式:100 ω, 低z高精度模式: 10 ω
显示彩色tft5.7英寸,触摸屏
功能比较器、bin测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能
接口ext i/o (处理器), /usb/u盘/lan/gp-ib/rs-232c, bcd输出
电源ac 100~240 v, 50/60 hz, 50 va max
体积及重量330w × 119h × 230d mm, 4.2 kg
附件电源线×1,使用说明书×1,cd-r(通讯说明书,lcr应用光盘)×1

探头·治具

※使用9268-10或9269-10时需要外接的恒压源、恒流源。

smd测试治具im9100

直接连接型,底部有电极smd用,dc~8mhz,可测量样品尺寸:0402~1005(jis)

4端子开尔文夹9140-10

dc~200kh,50 ω,1 m长

测试治具9261-10

线长1m,dc~5mhz,特性阻抗50ω,可测端口直径:0.3~1.5mm

测试治具9262

dc~8 mhz, 直接连接型

smd测试治具9263

直接连接型, dc~5 mhz 测试尺寸: 1mm~10.0mm

dc偏置电压单元 9268-10

直接连接型,40hz~8mhz,最大外加电压dc±40v

dc偏置电流单元 9269-10

直接连接型,40hz~2mhz,最大外加电流dc 2a(最大外加电压dc±40v)

4端子探头 9500-10

线长1m,dc~200khz,50ω,可测导体直径φ0.3mm~2mm

smd测试治具9677

用于侧面有电极的smd dc~120mhz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm

smd测试治具9699

用于底部有电极的smd dc~120mhz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下

前端探针im9901

用于更换l2001的前端的通用尺寸,l2001标配

前端探针im9902

用于更换l2001的前端的小型尺寸

4端子探头l2000

dc~5mhz,1m长

镊形探头l2001

线长73cm,dc~8mhz,50ω,前端电极间隔:0.3~6mm(im9901:jis尺寸1608~5750)(im9902:jis尺寸0603~5750)

pc通讯


gp-ib连接线9151-02

2m长

rs-232c 连接线 9637

9pin-9pin,1.8m长


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